一种测试探针和测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510306976.6

申请日：

2015-06-04

公开(公告)号：

CN105092908A

公开(公告)日：

2015-11-25

发明(设计)人：

王晶俞健阳

申请人：

申请人地址：

230012 安徽省合肥市新站区铜陵北路2177号

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G09G300

代理机构：

北京中博世达专利商标代理有限公司 11274

代理人：

申健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101638519340 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2015103069766 申请日:20150604
2015-11-25	公开	公开
2017-11-14	授权	授权

共 50 条

[1]

测试探针、测试探针模块及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113466504B ,2021-10-01

[2]

一种测试探针及测试装置 [P].

史正双 ;

吕建奇 .

中国专利 :CN217425876U ,2022-09-13

[3]

测试探针、测试装置及测试方法 [P].

周超 ;

黄先纯 ;

张涛 ;

吴正运 ;

耿涛 ;

甘由鹏 .

中国专利 :CN107102181B ,2017-08-29

[4]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

[5]

测试探针和使用其的测试装置 [P].

朴雄纪 .

中国专利 :CN109387673A ,2019-02-26

[6]

测试探针集成机构和电池测试装置 [P].

李艳坤 ;

刘博 ;

李海洋 ;

阮克钰 ;

郭立新 ;

任少滕 .

中国专利 :CN221303400U ,2024-07-09

[7]

一种测试探针摆动的测试装置 [P].

姚亦斌 ;

秦靖 .

中国专利 :CN221594572U ,2024-08-23

[8]

同轴测试探针模组及其测试装置 [P].

李定宗 .

中国专利 :CN213689716U ,2021-07-13

[9]

一种双信号可替换测试探针的测试夹具、刀片测试探针及测试装置 [P].

刘东 ;

张海洋 ;

吕文波 .

中国专利 :CN118091217A ,2024-05-28

[10]

一种芯片测试探针及芯片测试装置 [P].

罗跃浩 ;

黄建军 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114646787A ,2022-06-21

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