学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
测试探针和使用其的测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810876569.2
申请日
:
2018-08-03
公开(公告)号
:
CN109387673A
公开(公告)日
:
2019-02-26
发明(设计)人
:
朴雄纪
申请人
:
申请人地址
:
韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
马爽;臧建明
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-22
授权
授权
2019-02-26
公开
公开
2019-03-22
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20180803
共 50 条
[1]
测试探针、测试探针模块及测试装置
[P].
魏津
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏津
;
胡雪原
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡雪原
;
徐润生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐润生
.
中国专利
:CN113466504B
,2021-10-01
[2]
测试探针、测试装置及测试方法
[P].
周超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周超
;
黄先纯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄先纯
;
张涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张涛
;
吴正运
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴正运
;
耿涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
耿涛
;
甘由鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
甘由鹏
.
中国专利
:CN107102181B
,2017-08-29
[3]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置
[P].
朱小刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱小刚
.
中国专利
:CN212845744U
,2021-03-30
[4]
一种测试探针和测试装置
[P].
王晶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王晶
;
俞健阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
俞健阳
.
中国专利
:CN105092908A
,2015-11-25
[5]
测试探针集成机构和电池测试装置
[P].
李艳坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
李艳坤
;
刘博
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
刘博
;
李海洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
李海洋
;
阮克钰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
阮克钰
;
郭立新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
郭立新
;
任少滕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁德时代新能源科技股份有限公司
宁德时代新能源科技股份有限公司
任少滕
.
中国专利
:CN221303400U
,2024-07-09
[6]
电测试探针和使用该电测试探针的测试系统
[P].
黄俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄俊
;
何铭海
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何铭海
;
江学刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江学刚
;
汤仓龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤仓龙
.
中国专利
:CN109997045A
,2019-07-09
[7]
同轴测试探针模组及其测试装置
[P].
李定宗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李定宗
.
中国专利
:CN213689716U
,2021-07-13
[8]
测试探针和制造测试探针的方法
[P].
K.K.具
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
K.K.具
.
中国专利
:CN104977440B
,2015-10-14
[9]
一种测试探针摆动的测试装置
[P].
姚亦斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏唯而晟机电科技有限公司
江苏唯而晟机电科技有限公司
姚亦斌
;
秦靖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏唯而晟机电科技有限公司
江苏唯而晟机电科技有限公司
秦靖
.
中国专利
:CN221594572U
,2024-08-23
[10]
集成电路测试装置及其测试探针
[P].
王国华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王国华
;
谢伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢伟
.
中国专利
:CN206696394U
,2017-12-01
←
1
2
3
4
5
→