测试探针和使用其的测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810876569.2
申请日
2018-08-03
公开(公告)号
CN109387673A
公开(公告)日
2019-02-26
发明(设计)人
朴雄纪
申请人
申请人地址
韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
马爽;臧建明
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试探针、测试探针模块及测试装置 [P]. 
魏津 ;
胡雪原 ;
徐润生 .
中国专利 :CN113466504B ,2021-10-01
[2]
测试探针、测试装置及测试方法 [P]. 
周超 ;
黄先纯 ;
张涛 ;
吴正运 ;
耿涛 ;
甘由鹏 .
中国专利 :CN107102181B ,2017-08-29
[3]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30
[4]
一种测试探针和测试装置 [P]. 
王晶 ;
俞健阳 .
中国专利 :CN105092908A ,2015-11-25
[5]
测试探针集成机构和电池测试装置 [P]. 
李艳坤 ;
刘博 ;
李海洋 ;
阮克钰 ;
郭立新 ;
任少滕 .
中国专利 :CN221303400U ,2024-07-09
[6]
电测试探针和使用该电测试探针的测试系统 [P]. 
黄俊 ;
何铭海 ;
江学刚 ;
汤仓龙 .
中国专利 :CN109997045A ,2019-07-09
[7]
同轴测试探针模组及其测试装置 [P]. 
李定宗 .
中国专利 :CN213689716U ,2021-07-13
[8]
测试探针和制造测试探针的方法 [P]. 
K.K.具 .
中国专利 :CN104977440B ,2015-10-14
[9]
一种测试探针摆动的测试装置 [P]. 
姚亦斌 ;
秦靖 .
中国专利 :CN221594572U ,2024-08-23
[10]
集成电路测试装置及其测试探针 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN206696394U ,2017-12-01