用于半导体蚀刻室的内衬

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专利类型
发明
申请号
CN01803460.8
申请日
2001-01-11
公开(公告)号
CN1394351A
公开(公告)日
2003-01-29
发明(设计)人
J·S·布洛姆 A·T·海曼 M·施巴塔
申请人
申请人地址
美国特拉华州威尔明顿
IPC主分类号
H01J3732
IPC分类号
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司
代理人
刘元金;姜建成
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体蚀刻方法 [P]. 
邓丽刚 ;
凯蒂·霍尔 .
中国专利 :CN112567503A ,2021-03-26
[2]
半导体蚀刻方法 [P]. 
邓丽刚 ;
凯蒂·霍尔 .
英国专利 :CN112567503B ,2025-01-10
[3]
用于半导体设备的吸附室壁 [P]. 
侯赛因·萨迪吉 ;
理查德·A·戈茨乔 .
美国专利 :CN114730686B ,2025-02-18
[4]
用于半导体设备的吸附室壁 [P]. 
侯赛因·萨迪吉 ;
理查德·A·戈茨乔 .
中国专利 :CN114730686A ,2022-07-08
[5]
用于半导体蚀刻的系统和方法 [P]. 
张度 ;
斯克特·莱费夫雷 ;
杰弗里·谢尔 ;
彼得·比奥尔斯 .
日本专利 :CN120858444A ,2025-10-28
[6]
室清洁和半导体蚀刻气体 [P]. 
彭晟 ;
G.罗 ;
大﨑善政 .
中国专利 :CN112981369A ,2021-06-18
[7]
室清洁和半导体蚀刻气体 [P]. 
彭晟 ;
G.罗 ;
大﨑善政 .
中国专利 :CN106414798A ,2017-02-15
[8]
内衬和半导体加工腔室 [P]. 
杨纪鹏 ;
茅兴飞 ;
王海莉 ;
李岩 ;
杨延铭 ;
王英杰 ;
程超杰 ;
姚卫杰 ;
廖凤英 .
中国专利 :CN119650394B ,2025-09-16
[9]
内衬、反应腔室及半导体加工设备 [P]. 
罗大龙 .
中国专利 :CN107437490A ,2017-12-05
[10]
内衬和半导体加工腔室 [P]. 
杨纪鹏 ;
茅兴飞 ;
王海莉 ;
李岩 ;
杨延铭 ;
王英杰 ;
程超杰 ;
姚卫杰 ;
廖凤英 .
中国专利 :CN119650394A ,2025-03-18