半导体结构的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810971354.9
申请日
2018-08-24
公开(公告)号
CN109103190B
公开(公告)日
2018-12-28
发明(设计)人
吕相林 杨永刚 张静平
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
IPC主分类号
H01L27115
IPC分类号
H01L271157 H01L2711582
代理机构
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
董琳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
吕相林 ;
杨永刚 ;
张静平 ;
夏余平 ;
宋冬门 ;
王二伟 ;
刘开源 ;
李君 .
中国专利 :CN109273454A ,2019-01-25
[2]
半导体结构的形成方法 [P]. 
吕相林 .
中国专利 :CN109148452A ,2019-01-04
[3]
半导体结构的形成方法 [P]. 
林益梅 .
中国专利 :CN103367261B ,2013-10-23
[4]
半导体结构的形成方法 [P]. 
戴俭 ;
吴永玉 ;
陶然 ;
汪沛 ;
吕军军 .
中国专利 :CN120321997A ,2025-07-15
[5]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张振兴 .
中国专利 :CN115483090A ,2022-12-16
[6]
半导体结构的形成方法 [P]. 
刘莎莎 ;
徐丰 ;
黄鹏 ;
杨德明 .
中国专利 :CN120152372A ,2025-06-13
[7]
半导体结构的形成方法 [P]. 
毛刚 ;
俞少峰 ;
陈林林 ;
杨正睿 ;
虞肖鹏 .
中国专利 :CN105097532A ,2015-11-25
[8]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张振兴 .
中国专利 :CN115483090B ,2025-10-21
[9]
半导体结构的形成方法 [P]. 
郗宁 .
中国专利 :CN110880455A ,2020-03-13
[10]
半导体结构的形成方法 [P]. 
吴轶超 .
中国专利 :CN117672829A ,2024-03-08