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半导体结构的形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810971354.9
申请日
:
2018-08-24
公开(公告)号
:
CN109103190B
公开(公告)日
:
2018-12-28
发明(设计)人
:
吕相林
杨永刚
张静平
申请人
:
申请人地址
:
430074 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
IPC主分类号
:
H01L27115
IPC分类号
:
H01L271157
H01L2711582
代理机构
:
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
:
董琳
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-01-22
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/115 申请日:20180824
2018-12-28
公开
公开
2020-12-11
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法
[P].
吕相林
论文数:
0
引用数:
0
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0
吕相林
;
杨永刚
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0
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杨永刚
;
张静平
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张静平
;
夏余平
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夏余平
;
宋冬门
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0
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宋冬门
;
王二伟
论文数:
0
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王二伟
;
刘开源
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0
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0
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刘开源
;
李君
论文数:
0
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0
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0
李君
.
中国专利
:CN109273454A
,2019-01-25
[2]
半导体结构的形成方法
[P].
吕相林
论文数:
0
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0
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0
吕相林
.
中国专利
:CN109148452A
,2019-01-04
[3]
半导体结构的形成方法
[P].
林益梅
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林益梅
.
中国专利
:CN103367261B
,2013-10-23
[4]
半导体结构的形成方法
[P].
戴俭
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
戴俭
;
吴永玉
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
吴永玉
;
陶然
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
陶然
;
汪沛
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
汪沛
;
吕军军
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
吕军军
.
中国专利
:CN120321997A
,2025-07-15
[5]
半导体结构的形成方法
[P].
张振兴
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张振兴
.
中国专利
:CN115483090A
,2022-12-16
[6]
半导体结构的形成方法
[P].
刘莎莎
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
刘莎莎
;
徐丰
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
徐丰
;
黄鹏
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
黄鹏
;
杨德明
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
杨德明
.
中国专利
:CN120152372A
,2025-06-13
[7]
半导体结构的形成方法
[P].
毛刚
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0
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毛刚
;
俞少峰
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俞少峰
;
陈林林
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陈林林
;
杨正睿
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杨正睿
;
虞肖鹏
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0
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0
虞肖鹏
.
中国专利
:CN105097532A
,2015-11-25
[8]
半导体结构的形成方法
[P].
张振兴
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
张振兴
.
中国专利
:CN115483090B
,2025-10-21
[9]
半导体结构的形成方法
[P].
郗宁
论文数:
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引用数:
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郗宁
.
中国专利
:CN110880455A
,2020-03-13
[10]
半导体结构的形成方法
[P].
吴轶超
论文数:
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
吴轶超
.
中国专利
:CN117672829A
,2024-03-08
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