半导体结构的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510518006.6
申请日
2025-04-23
公开(公告)号
CN120321997A
公开(公告)日
2025-07-15
发明(设计)人
戴俭 吴永玉 陶然 汪沛 吕军军
申请人
浙江创芯集成电路有限公司
申请人地址
311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道平澜路2118号浙江大学杭州国际科创中心水博园区11幢4层-5层(自主申报)
IPC主分类号
H10D64/01
IPC分类号
H10D64/00 H10D30/65
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
张雪彬
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法 [P]. 
吕相林 ;
杨永刚 ;
张静平 .
中国专利 :CN109103190B ,2018-12-28
[2]
半导体结构的形成方法 [P]. 
吕相林 .
中国专利 :CN109148452A ,2019-01-04
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
吕相林 ;
杨永刚 ;
张静平 ;
夏余平 ;
宋冬门 ;
王二伟 ;
刘开源 ;
李君 .
中国专利 :CN109273454A ,2019-01-25
[4]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张振兴 .
中国专利 :CN115483090A ,2022-12-16
[5]
半导体结构的形成方法 [P]. 
刘莎莎 ;
徐丰 ;
黄鹏 ;
杨德明 .
中国专利 :CN120152372A ,2025-06-13
[6]
半导体结构的形成方法 [P]. 
毛刚 ;
俞少峰 ;
陈林林 ;
杨正睿 ;
虞肖鹏 .
中国专利 :CN105097532A ,2015-11-25
[7]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张振兴 .
中国专利 :CN115483090B ,2025-10-21
[8]
半导体结构的形成方法 [P]. 
宋春 ;
刘良 .
中国专利 :CN119893996B ,2025-10-28
[9]
半导体结构的形成方法 [P]. 
范义秋 ;
陈永强 ;
丁凤 ;
杨晗 ;
涂武涛 .
中国专利 :CN119894047A ,2025-04-25
[10]
半导体结构的形成方法 [P]. 
周鲁豪 ;
吴永玉 ;
陶然 ;
王江红 ;
黄天哲 .
中国专利 :CN118248572B ,2025-06-24