集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN97122830.2

申请日：

1997-10-04

公开(公告)号：

CN1110708C

公开(公告)日：

1998-04-15

发明(设计)人：

岛崎宜昭

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G06F1122 H05K300

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

吕晓章

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-06-04	授权	授权
2011-01-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101029289563 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL971228302 申请日:19971004 授权公告日:20030604 终止日期:20091104
1998-04-15	公开	公开
1998-03-25	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

[2]

集成电路测试装置 [P].

刘甲全 .

中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23

[3]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[4]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[5]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[6]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[7]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

[8]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19

[9]

集成电路测试装置 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09

[10]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN215493976U ,2022-01-11

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