半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910185589.X
申请日
2019-03-12
公开(公告)号
CN111696864A
公开(公告)日
2020-09-22
发明(设计)人
金吉松 胡敏达 何其暘
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L21336
IPC分类号
H01L2128
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣;吴敏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
王智东 ;
张城龙 ;
涂武涛 .
中国专利 :CN109994429A ,2019-07-09
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110164767B ,2019-08-23
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110634742A ,2019-12-31
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
谢欣云 .
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[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN109585546A ,2019-04-05
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN108878358B ,2018-11-23
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
张丽杰 .
中国专利 :CN110233098A ,2019-09-13
[8]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
纪世良 ;
刘盼盼 .
中国专利 :CN111029302A ,2020-04-17
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN109980003B ,2019-07-05