半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810662759.4
申请日
2018-06-25
公开(公告)号
CN110634742A
公开(公告)日
2019-12-31
发明(设计)人
周飞
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L21336
IPC分类号
H01L2978 H01L29423
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣;吴敏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
张焕云 ;
吴健 .
中国专利 :CN110120345B ,2019-08-13
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
王智东 ;
张城龙 ;
涂武涛 .
中国专利 :CN109994429A ,2019-07-09
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
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[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110707040A ,2020-01-17
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN109585546A ,2019-04-05
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
张丽杰 .
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半导体器件的形成方法 [P]. 
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半导体器件的形成方法 [P]. 
刘佳磊 .
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110021662B ,2019-07-16