动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010494800.9

申请日：

2020-06-03

公开(公告)号：

CN111751012A

公开(公告)日：

2020-10-09

发明(设计)人：

段亚轩达争尚李红光李铭王璞陈晓义陈永权袁索超蔺辉

申请人：

申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

IPC主分类号：

G01J902

IPC分类号：

G01B1124 G01M1102

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

王凯敏

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-09	公开	公开
2021-12-14	授权	授权
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 9/02 申请日:20200603

共 50 条

[1]

动态高分辨率波前测量装置及方法 [P].

李晶 ;

段亚轩 ;

陈永权 ;

赵建科 ;

刘尚阔 ;

薛勋 .

中国专利 :CN105823563B ,2016-08-03

[2]

动态高分辨率波前测量装置 [P].

李晶 ;

段亚轩 ;

陈永权 ;

赵建科 ;

刘尚阔 ;

薛勋 .

中国专利 :CN205719273U ,2016-11-23

[3]

光学系统波前测量装置及测量方法 [P].

陈永权 ;

段亚轩 ;

李坤 ;

赵建科 ;

胡丹丹 ;

赛建刚 ;

龙江波 .

中国专利 :CN103226059A ,2013-07-31

[4]

波前测量装置和波前测量方法 [P].

近藤刚史 .

中国专利 :CN102914374A ,2013-02-06

[5]

高分辨率位移测量装置及测量方法 [P].

刘维新 ;

武中臣 ;

贺鹏志 ;

王晴 ;

仲亦凡 .

中国专利 :CN115325943A ,2022-11-11

[6]

高分辨率位移测量装置及测量方法 [P].

刘维新 ;

武中臣 ;

贺鹏志 ;

王晴 ;

仲亦凡 .

中国专利 :CN115325943B ,2025-05-13

[7]

大口径光学元件二次曝光相位测量装置及测量方法 [P].

陶华 ;

潘兴臣 ;

王海燕 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN104634542B ,2015-05-20

[8]

光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法 [P].

钟朝阳 ;

刘源 ;

周翠芸 ;

马秀华 ;

孟俊清 ;

侯霞 ;

陈卫标 .

中国专利 :CN106813901B ,2017-06-09

[9]

光束相位在线测量装置和测量方法 [P].

潘兴臣 ;

王海燕 ;

程君 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN103884436B ,2014-06-25

[10]

一种高分辨率的近场波前测量装置和测量方法 [P].

张雪洁 ;

程北 ;

沈卫星 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN110160663B ,2019-08-23

← 1 2 3 4 5 →