具有底部厚氧化层的沟槽栅MOS结构和制作工艺

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专利类型
发明
申请号
CN201910765354.8
申请日
2019-08-19
公开(公告)号
CN110400847A
公开(公告)日
2019-11-01
发明(设计)人
钱振华 张艳旺
申请人
申请人地址
214063 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A10栋207
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L2906 H01L29423
代理机构
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104
代理人
曹祖良
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
具有底部厚氧化层的沟槽栅MOS结构 [P]. 
钱振华 ;
张艳旺 .
中国专利 :CN210926025U ,2020-07-03
[2]
制作底部厚栅氧化层沟槽MOS的工艺方法 [P]. 
金勤海 ;
沈浩峰 ;
袁秉荣 .
中国专利 :CN103094117A ,2013-05-08
[3]
用选择性外延制作底部厚栅氧化层沟槽MOS的工艺方法 [P]. 
金勤海 ;
杨川 ;
许凯强 .
中国专利 :CN103094074A ,2013-05-08
[4]
一种具有底部厚栅氧的沟槽栅器件及制作方法 [P]. 
叶俊 ;
刘艾奇 ;
肖璇 ;
杨治宇 ;
谢果 .
中国专利 :CN118098968A ,2024-05-28
[5]
双层栅沟槽MOS结构中形成底部氧化层的方法 [P]. 
李陆萍 ;
丛茂杰 ;
金勤海 .
中国专利 :CN102610522A ,2012-07-25
[6]
在沟槽底部制作厚氧化层的方法 [P]. 
彭虎 ;
谢烜 ;
杨欣 .
中国专利 :CN101877314A ,2010-11-03
[7]
具有阶梯深槽屏蔽栅MOS结构和制作方法 [P]. 
钱振华 ;
张艳旺 .
中国专利 :CN110400846B ,2024-12-20
[8]
具有阶梯深槽屏蔽栅MOS结构和制作方法 [P]. 
钱振华 ;
张艳旺 .
中国专利 :CN110400846A ,2019-11-01
[9]
具有浮岛结构的高压屏蔽栅MOSFET和制作方法 [P]. 
钱振华 ;
张艳旺 .
中国专利 :CN110459612A ,2019-11-15
[10]
沟槽式功率器件中沟槽底部厚栅氧化层的形成方法 [P]. 
冯大贵 .
中国专利 :CN102456561A ,2012-05-16