绝缘体上应变硅结构的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200680031186.0
申请日
2006-08-02
公开(公告)号
CN101292341A
公开(公告)日
2008-10-22
发明(设计)人
A·M·琼斯 L·费
申请人
申请人地址
美国密苏里州
IPC主分类号
H01L21762
IPC分类号
H01L2712
代理机构
北京市中咨律师事务所
代理人
杨晓光;李峥
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法 [P]. 
马通达 ;
屠海令 ;
胡广勇 ;
孙泽明 ;
邵贝羚 ;
刘安生 .
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[2]
一种绝缘体上应变硅制备方法 [P]. 
张苗 ;
张波 ;
王曦 ;
薛忠营 ;
魏星 ;
武爱民 .
中国专利 :CN101916741B ,2010-12-15
[3]
制作应变绝缘体上硅结构的方法及用此方法形成的绝缘体上硅结构 [P]. 
古川俊治 ;
查尔斯·W.·考伯格三世 ;
詹姆斯·A.·斯林科曼 .
中国专利 :CN1914722B ,2007-02-14
[4]
制造绝缘体上硅结构的工艺 [P]. 
C·大卫 ;
塞巴斯蒂安·凯尔迪勒 .
中国专利 :CN103035562A ,2013-04-10
[5]
利用绝缘体上硅制备悬空应变硅薄膜的方法 [P]. 
张苗 ;
张波 ;
王曦 ;
薛忠营 ;
魏星 ;
武爱民 .
中国专利 :CN101958271B ,2011-01-26
[6]
应变绝缘体上硅的形成方法 [P]. 
盖伊·M·科恩 ;
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[7]
用于绝缘体上应变硅晶片上双重隔离的方法和装置 [P]. 
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[8]
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刘东明 ;
颜秀文 ;
贾京英 ;
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文正 .
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[9]
绝缘体上硅衬底的制造方法 [P]. 
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[10]
绝缘体上硅制品的制造方法 [P]. 
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