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高可靠性深沟槽功率MOS器件
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821077743.9
申请日
:
2018-07-09
公开(公告)号
:
CN208835068U
公开(公告)日
:
2019-05-07
发明(设计)人
:
黄彦智
陆佳顺
杨洁雯
申请人
:
申请人地址
:
215126 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城NW20幢501室
IPC主分类号
:
H01L2978
IPC分类号
:
H01L2906
代理机构
:
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
:
马明渡;王健
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-05-07
授权
授权
共 50 条
[1]
高可靠性深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
陆佳顺
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陆佳顺
;
杨洁雯
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杨洁雯
.
中国专利
:CN109103257A
,2018-12-28
[2]
深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
陆佳顺
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陆佳顺
;
杨洁雯
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杨洁雯
.
中国专利
:CN208045510U
,2018-11-02
[3]
高可靠性沟槽型半导体MOS器件
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
陆佳顺
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陆佳顺
;
杨洁雯
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杨洁雯
.
中国专利
:CN208045511U
,2018-11-02
[4]
高可靠性沟槽功率MOS晶体管
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
俞仲威
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俞仲威
.
中国专利
:CN213583802U
,2021-06-29
[5]
低漏电流深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
陆佳顺
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陆佳顺
;
杨洁雯
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杨洁雯
.
中国专利
:CN208045509U
,2018-11-02
[6]
高可靠性垂直功率MOS器件
[P].
陈译
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陈译
;
陆佳顺
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陆佳顺
;
杨洁雯
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杨洁雯
.
中国专利
:CN212161821U
,2020-12-15
[7]
高可靠性超结功率器件
[P].
朱袁正
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朱袁正
;
叶鹏
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叶鹏
;
周锦程
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周锦程
;
李宗清
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李宗清
.
中国专利
:CN216597593U
,2022-05-24
[8]
深沟槽功率MOS半导体器件
[P].
黄彦智
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黄彦智
;
俞仲威
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俞仲威
.
中国专利
:CN213583800U
,2021-06-29
[9]
超高元胞密度深沟槽功率MOS器件
[P].
朱袁正
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朱袁正
;
秦旭光
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秦旭光
;
丁磊
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丁磊
.
中国专利
:CN202384343U
,2012-08-15
[10]
高可靠性功率器件
[P].
何洪运
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何洪运
;
郝艳霞
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郝艳霞
;
刘玉龙
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刘玉龙
;
沈加勇
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沈加勇
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中国专利
:CN208538826U
,2019-02-22
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