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深沟槽功率MOS器件
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721813755.9
申请日
:
2017-12-22
公开(公告)号
:
CN208045510U
公开(公告)日
:
2018-11-02
发明(设计)人
:
黄彦智
陆佳顺
杨洁雯
申请人
:
申请人地址
:
215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城NW20幢501室
IPC主分类号
:
H01L2978
IPC分类号
:
H01L2906
H01L29423
代理机构
:
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
:
马明渡;王健
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-11-02
授权
授权
共 50 条
[1]
低漏电流深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
陆佳顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆佳顺
;
杨洁雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨洁雯
.
中国专利
:CN208045509U
,2018-11-02
[2]
高可靠性深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
陆佳顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆佳顺
;
杨洁雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨洁雯
.
中国专利
:CN208835068U
,2019-05-07
[3]
低漏电流深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
陆佳顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆佳顺
;
杨洁雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨洁雯
.
中国专利
:CN208045505U
,2018-11-02
[4]
高可靠性深沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
陆佳顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆佳顺
;
杨洁雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨洁雯
.
中国专利
:CN109103257A
,2018-12-28
[5]
超高元胞密度深沟槽功率MOS器件
[P].
朱袁正
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱袁正
;
秦旭光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
秦旭光
;
丁磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁磊
.
中国专利
:CN202384343U
,2012-08-15
[6]
深沟槽功率MOS半导体器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
俞仲威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
俞仲威
.
中国专利
:CN213583800U
,2021-06-29
[7]
具有超高元胞密度的深沟槽功率MOS器件
[P].
朱袁正
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱袁正
;
冷德武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
冷德武
.
中国专利
:CN204375758U
,2015-06-03
[8]
沟槽功率MOS器件
[P].
黄彦智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄彦智
;
陆佳顺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆佳顺
;
杨洁雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨洁雯
.
中国专利
:CN207624702U
,2018-07-17
[9]
一种深沟槽功率MOS器件
[P].
朱袁正
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱袁正
;
冷德武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
冷德武
;
叶鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶鹏
;
丁磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁磊
.
中国专利
:CN201611658U
,2010-10-20
[10]
超高元胞密度深沟槽功率MOS器件及其制造方法
[P].
朱袁正
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱袁正
;
秦旭光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
秦旭光
;
丁磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁磊
.
中国专利
:CN102420252B
,2012-04-18
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