半导体结构的形成方法

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申请号
CN202011246378.1
申请日
2020-11-10
公开(公告)号
CN114464570A
公开(公告)日
2022-05-10
发明(设计)人
左权
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H01L21768
IPC分类号
代理机构
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
孙佳胤;高德志
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法 [P]. 
左权 .
中国专利 :CN114464570B ,2025-01-17
[2]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张海洋 .
中国专利 :CN106298470A ,2017-01-04
[3]
半导体结构的形成方法 [P]. 
陈琛 .
中国专利 :CN115706012A ,2023-02-17
[4]
半导体结构的形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN113363145A ,2021-09-07
[5]
半导体结构的形成方法 [P]. 
夏军 ;
白世杰 .
中国专利 :CN114496904A ,2022-05-13
[6]
半导体结构的形成方法 [P]. 
夏军 ;
白世杰 .
中国专利 :CN114496904B ,2024-12-06
[7]
半导体结构的形成方法 [P]. 
李勇 ;
洪中山 .
中国专利 :CN106611788A ,2017-05-03
[8]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张城龙 ;
郑喆 ;
张海洋 .
中国专利 :CN107731737A ,2018-02-23
[9]
半导体结构的形成方法 [P]. 
周儒领 ;
张庆勇 .
中国专利 :CN106816441A ,2017-06-09
[10]
半导体结构的形成方法 [P]. 
何永根 ;
禹国宾 .
中国专利 :CN106033720A ,2016-10-19