一种基于图像识别的模具缺陷检测方法、计算机可读存储介质及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011475659.4
申请日
2020-12-15
公开(公告)号
CN112465809A
公开(公告)日
2021-03-09
发明(设计)人
孙鹏劼 张铉 刘昊 裴智勇 胡风雪 翟奋楼 杨杰
申请人
申请人地址
100094 北京市东城区东四南大街249号
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T7181 G06T762 G06T360 G06K946 G06K962
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
肖光曦 .
中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
原进良 ;
曹沿松 ;
纪其乐 .
中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27
[3]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
冯豪文 ;
郭师峰 ;
吕高龙 ;
陈丹 ;
冯伟 .
中国专利 :CN113536894A ,2021-10-22
[4]
缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质 [P]. 
陈振州 ;
江少波 ;
时广军 .
中国专利 :CN117805142A ,2024-04-02
[5]
缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P]. 
王倩 ;
宋林东 .
中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12
[6]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114764764A ,2022-07-19
[7]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477A ,2022-07-01
[8]
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114691477B ,2025-09-26
[9]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
郭一川 ;
路元元 ;
李昭月 ;
柴栋 ;
王洪 .
中国专利 :CN113646801B ,2024-04-02
[10]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
郭一川 ;
路元元 ;
李昭月 ;
柴栋 ;
王洪 .
中国专利 :CN113646801A ,2021-11-12