超结SGT MOS功率半导体器件结构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022677174.5
申请日
2020-11-19
公开(公告)号
CN213184293U
公开(公告)日
2021-05-11
发明(设计)人
廖巍 张海涛
申请人
申请人地址
214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D2栋四层
IPC主分类号
H01L2906
IPC分类号
H01L2978
代理机构
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104
代理人
曹祖良;涂三民
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
MOS型功率半导体器件 [P]. 
黄彦智 ;
俞仲威 .
中国专利 :CN213988891U ,2021-08-17
[2]
一种超结功率半导体器件 [P]. 
朱袁正 ;
李宗清 .
中国专利 :CN210156383U ,2020-03-17
[3]
一种沟槽栅超结功率半导体器件 [P]. 
朱袁正 ;
叶鹏 ;
周锦程 ;
杨卓 .
中国专利 :CN216597595U ,2022-05-24
[4]
垂直功率MOS半导体器件 [P]. 
黄彦智 ;
俞仲威 .
中国专利 :CN213583801U ,2021-06-29
[5]
一种超结构功率半导体器件 [P]. 
朱袁正 ;
叶鹏 ;
周锦程 ;
杨卓 .
中国专利 :CN216698375U ,2022-06-07
[6]
功率MOS半导体器件 [P]. 
黄彦智 ;
陆佳顺 ;
杨洁雯 .
中国专利 :CN208111442U ,2018-11-16
[7]
MOS功率半导体器件 [P]. 
黄彦智 ;
陆佳顺 ;
杨洁雯 .
中国专利 :CN208385415U ,2019-01-15
[8]
半导体超结功率器件 [P]. 
袁愿林 ;
刘磊 ;
刘伟 ;
王睿 .
中国专利 :CN111326585A ,2020-06-23
[9]
超结功率半导体器件 [P]. 
丹尼尔·M·金策 .
中国专利 :CN101641791A ,2010-02-03
[10]
沟槽功率半导体器件 [P]. 
朱袁正 ;
周锦程 .
中国专利 :CN213150783U ,2021-05-07