一种可参数化配置的存储器内建自测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910720675.6

申请日：

2019-08-06

公开(公告)号：

CN110415751A

公开(公告)日：

2019-11-05

发明(设计)人：

刘世欢蔡志匡王子轩方玉明郭宇锋杨军

申请人：

申请人地址：

226300 江苏省南通市港闸区幸福新城11号楼8319室

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

G11C2914

代理机构：

南京正联知识产权代理有限公司 32243

代理人：

张玉红

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-05	公开	公开
2021-05-11	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G11C 29/12 变更事项:发明人变更前:刘世欢蔡志匡王子轩方玉明郭宇锋杨军变更后:蔡志匡刘世欢王子轩方玉明郭宇锋杨军
2019-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/12 申请日:20190806
2021-05-25	授权	授权

共 50 条

[1]

存储器内建自测试电路 [P].

李鸣 .

中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30

[2]

一种可配置的存储器内建自测试电路 [P].

杨海波 ;

王玉欢 ;

王泉 ;

黎小玉 ;

霍卫涛 .

中国专利 :CN207541950U ,2018-06-26

[3]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[4]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25

[5]

存储器内建自测试方法 [P].

杨修 ;

唐杜娟 .

中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07

[6]

内建自测试电路及存储器 [P].

陆天辰 .

中国专利 :CN119694372B ,2025-10-21

[7]

存储器的内建自测试系统 [P].

彭涛 .

中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16

[8]

存储器的内建自测试系统 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17

[9]

存储器芯片内建自测试电路装置 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN208655247U ,2019-03-26

[10]

存储器的快速内建自测试系统 [P].

拜福君 ;

熊保玉 .

中国专利 :CN203910275U ,2014-10-29

← 1 2 3 4 5 →