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芯片测试加电治具、芯片测试加电装置及方法
被引：0
申请号：
CN202211361419.0
申请日：
2022-11-02
公开(公告)号：
CN115684885A
公开(公告)日：
2023-02-03
发明(设计)人：
李伟
朱博巍
李冬荣
申请人：
申请人地址：
518100 广东省深圳市光明新区玉塘街道玉律社区光侨大道1008号裕丰达工业园3栋201
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
黄鸿华
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2023-02-03 | 公开 | 公开 |