一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202023104984.8
申请日
2020-12-22
公开(公告)号
CN214011094U
公开(公告)日
2021-08-20
发明(设计)人
乔森
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室
IPC主分类号
G01N2500
IPC分类号
G01N1700
代理机构
南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145
代理人
刘林艳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[2]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[3]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20
[4]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
纪建兆 ;
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN217484419U ,2022-09-23
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217133303U ,2022-08-05
[7]
应用于电子元件的测试装置 [P]. 
梁方冬 ;
张成林 ;
陈国庆 ;
许永钦 ;
夏从光 .
中国专利 :CN217278690U ,2022-08-23
[8]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18
[9]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512113Y ,2002-09-18
[10]
一种用于电子元件的测试装置 [P]. 
张向军 ;
刘庆宇 ;
李成朋 ;
李四林 .
中国专利 :CN222842602U ,2025-05-09