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一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202023104984.8
申请日
:
2020-12-22
公开(公告)号
:
CN214011094U
公开(公告)日
:
2021-08-20
发明(设计)人
:
乔森
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室
IPC主分类号
:
G01N2500
IPC分类号
:
G01N1700
代理机构
:
南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145
代理人
:
刘林艳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-20
授权
授权
共 50 条
[1]
电子元件测试装置
[P].
卢昱呈
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卢昱呈
;
林冠龙
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林冠龙
;
吴振维
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吴振维
.
中国专利
:CN217787187U
,2022-11-11
[2]
电子元件测试装置
[P].
肖旭辉
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肖旭辉
.
中国专利
:CN205484609U
,2016-08-17
[3]
电子元件测试装置
[P].
徐铭阳
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徐铭阳
;
胡冲
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胡冲
;
鲍军其
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鲍军其
;
王昭敦
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王昭敦
.
中国专利
:CN217466472U
,2022-09-20
[4]
电子元件测试装置
[P].
张峰
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张峰
.
中国专利
:CN207164175U
,2018-03-30
[5]
电子元件测试装置
[P].
纪建兆
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纪建兆
;
卢昱呈
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卢昱呈
;
林芳旭
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林芳旭
.
中国专利
:CN217484419U
,2022-09-23
[6]
电子元件测试装置
[P].
徐铭阳
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徐铭阳
;
胡冲
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胡冲
;
鲍军其
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鲍军其
;
王昭敦
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王昭敦
.
中国专利
:CN217133303U
,2022-08-05
[7]
应用于电子元件的测试装置
[P].
梁方冬
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梁方冬
;
张成林
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张成林
;
陈国庆
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陈国庆
;
许永钦
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许永钦
;
夏从光
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夏从光
.
中国专利
:CN217278690U
,2022-08-23
[8]
电子元件的测试装置
[P].
王士伟
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王士伟
.
中国专利
:CN2512112Y
,2002-09-18
[9]
电子元件的测试装置
[P].
王士伟
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王士伟
.
中国专利
:CN2512113Y
,2002-09-18
[10]
一种用于电子元件的测试装置
[P].
张向军
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机构:
淮安朗旭电子有限公司
淮安朗旭电子有限公司
张向军
;
刘庆宇
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淮安朗旭电子有限公司
淮安朗旭电子有限公司
刘庆宇
;
李成朋
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淮安朗旭电子有限公司
淮安朗旭电子有限公司
李成朋
;
李四林
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机构:
淮安朗旭电子有限公司
淮安朗旭电子有限公司
李四林
.
中国专利
:CN222842602U
,2025-05-09
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