一种半导体元器件高压测试分选输送线

被引：0

申请号：

CN202211135954.4

申请日：

2022-09-19

公开(公告)号：

CN115445944A

公开(公告)日：

2022-12-09

发明(设计)人：

陈树钊单忠频陈伟明陈志敏康茂薛克瑞缪来虎黄昌浩彭宇杰温炜杰

申请人：

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区8号楼15楼1219单元

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C5344 B07C536

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268

代理人：

麦俊逸;张永盛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/02 申请日:20220919
2022-12-09	公开	公开

共 50 条

[1]

一种半导体元器件高压测试分选输送线 [P].

陈树钊 ;

单忠频 ;

陈伟明 ;

陈志敏 ;

康茂 ;

薛克瑞 ;

缪来虎 ;

黄昌浩 ;

彭宇杰 ;

温炜杰 .

中国专利 :CN115445944B ,2025-05-16

[2]

一种半导体元器件高低压测试分选机 [P].

单忠频 ;

陈伟明 ;

康茂 ;

缪来虎 ;

周圣军 ;

丁鑫锐 ;

陈树钊 ;

薛克瑞 ;

郭琼生 ;

黄仁发 .

中国专利 :CN115193763B ,2022-12-13

[3]

一种半导体元器件绝缘测试装置 [P].

谭杰 ;

区永强 ;

肖志华 .

中国专利 :CN205691719U ,2016-11-16

[4]

一种半导体元器件多面检测分选设备 [P].

薛克瑞 ;

白志坚 ;

庄裕刚 ;

张小东 .

中国专利 :CN115106307A ,2022-09-27

[5]

一种半导体元器件多面检测分选设备 [P].

薛克瑞 ;

白志坚 ;

庄裕刚 ;

张小东 .

中国专利 :CN115106307B ,2024-02-13

[6]

一种半导体元器件测试装置 [P].

张芳佳 .

中国专利 :CN209707643U ,2019-11-29

[7]

一种半导体元器件测试分拣设备 [P].

古德宗 ;

廖浚男 ;

范光宇 .

中国专利 :CN216094894U ,2022-03-22

[8]

一种半导体元器件测试装置 [P].

孙怒涛 ;

张剑 ;

杨剑 ;

罗薇 .

中国专利 :CN206362891U ,2017-07-28

[9]

一种半导体元器件 [P].

张超 ;

张粮佶 ;

张政 ;

王新 .

中国专利 :CN222106703U ,2024-12-03

[10]

一种半导体元器件测试工艺及测试机构 [P].

康茂 ;

单忠频 ;

陈伟明 ;

陈树钊 ;

黄仁发 ;

黄昌浩 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

彭宇杰 ;

郭琼生 .

中国专利 :CN115639449B ,2025-08-12

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