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晶圆检测方法及晶圆检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911030448.7
申请日
:
2019-10-28
公开(公告)号
:
CN112735959A
公开(公告)日
:
2021-04-30
发明(设计)人
:
不公告发明人
申请人
:
申请人地址
:
230001 安徽省合肥市蜀山区经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
:
孙佳胤;陈丽丽
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-30
公开
公开
2022-03-18
授权
授权
2021-05-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20191028
共 50 条
[1]
晶圆检测方法及晶圆检测装置
[P].
苏旭文
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
苏旭文
.
中国专利
:CN119601486A
,2025-03-11
[2]
晶圆检测结构及晶圆检测设备
[P].
刘桂林
论文数:
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
刘桂林
;
徐焕
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
徐焕
;
雷传
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
雷传
;
杜振东
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
杜振东
;
吴灿
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
吴灿
;
王坤
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机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
王坤
;
侯魁
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0
机构:
长川科技(苏州)有限公司
长川科技(苏州)有限公司
侯魁
.
中国专利
:CN223244330U
,2025-08-19
[3]
晶圆检测设备的控制方法、晶圆检测方法及晶圆检测设备
[P].
张鹏斌
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张鹏斌
;
魏新和
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
魏新和
;
董坤玲
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
董坤玲
;
段晓炳
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
段晓炳
;
吴彦强
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
吴彦强
;
杨亭
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
杨亭
;
张谦
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张谦
;
论文数:
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机构:
陈鲁
.
中国专利
:CN120685668A
,2025-09-23
[4]
晶圆检测治具及晶圆检测装置
[P].
朱泽星
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0
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0
朱泽星
.
中国专利
:CN108872260B
,2018-11-23
[5]
晶圆位置检测装置、晶圆位置检测方法
[P].
袁林涛
论文数:
0
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0
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0
袁林涛
.
中国专利
:CN110729216A
,2020-01-24
[6]
晶圆检测装置及晶圆片检测方法
[P].
陈蕖
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈蕖
;
徐铭
论文数:
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机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
徐铭
;
屠国强
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机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
屠国强
;
陈新来
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机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈新来
;
沈一林
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机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
沈一林
.
中国专利
:CN118800678A
,2024-10-18
[7]
晶圆检测设备及晶圆检测方法
[P].
郭宏雁
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
郭宏雁
;
杨轩
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
杨轩
;
胡文龙
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
胡文龙
;
王俊夫
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
王俊夫
;
马驰
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
马驰
.
中国专利
:CN120895487A
,2025-11-04
[8]
晶圆检测方法及晶圆检测系统
[P].
罗聪
论文数:
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罗聪
.
中国专利
:CN109378279A
,2019-02-22
[9]
晶圆检测设备及晶圆检测方法
[P].
何跃
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机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
何跃
.
中国专利
:CN119694919A
,2025-03-25
[10]
晶圆检测设备及晶圆检测方法
[P].
胡俊林
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
胡俊林
;
郑隆结
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
孙会民
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN120314331B
,2025-08-15
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