基于光度立体与深度学习算法的缺陷检测方法及装置

被引：0

申请号：

CN202211588775.6

申请日：

2022-12-12

公开(公告)号：

CN115656189A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

苏育挺井佩光景梦瑶

申请人：

申请人地址：

362000 福建省泉州市丰泽区北峰街道霞美社区霞贤路300号泉州软件园综合楼15层1517

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G06T700 G06T7586 G06T7514 G06V10766 G06V1080 G06V1082

代理机构：

泉州君典专利代理事务所(普通合伙) 35239

代理人：

杜慧真

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20221212
2023-01-31	公开	公开

共 50 条

[1]

基于光度立体和深度学习的PCB微小缺陷检测识别方法 [P].

梅浩 .

中国专利 :CN117372770A ,2024-01-09

[2]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377A ,2024-03-15

[3]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377B ,2024-05-24

[4]

基于深度学习算法的表面缺陷检测方法 [P].

董航程 ;

刘国栋 ;

刘炳国 ;

高卓 ;

黄颖妍 ;

廖敬骁 .

中国专利 :CN115205275B ,2025-05-23

[5]

基于深度学习算法的便携式电缆接头表面划痕缺陷检测方法 [P].

王学峰 ;

方铭章 ;

赵欢 ;

余子彬 ;

黄军翔 ;

苏健成 .

中国专利 :CN118071680A ,2024-05-24

[6]

一种基于深度学习的结构缺陷检测方法 [P].

高峰利 ;

王怀喜 ;

李绍 ;

林锥 .

中国专利 :CN115423741A ,2022-12-02

[7]

基于深度学习目标检测的船体缺陷检测方法及装置 [P].

明瑞成 .

中国专利 :CN120431075A ,2025-08-05

[8]

基于深度学习的布匹缺陷检测方法 [P].

马意彭 ;

戴菲 ;

林勇康 ;

肖建 ;

蔡志匡 .

中国专利 :CN110175988A ,2019-08-27

[9]

一种基于深度学习算法的高精度晶圆缺陷检测方法及系统 [P].

史浩琛 ;

夏伟 ;

唐文婧 ;

蒋锴 ;

王静 .

中国专利 :CN114723757A ,2022-07-08

[10]

一种基于深度学习算法的梯次利用电芯外观缺陷检测方法 [P].

张西华 ;

迟亚欣 ;

梁鸿飞 ;

陈晓阳 ;

宋雨佳 .

中国专利 :CN118941544A ,2024-11-12

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