一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410166424.9

申请日：

2024-02-06

公开(公告)号：

CN117710377B

公开(公告)日：

2024-05-24

发明(设计)人：

李彦庆余毅郭同健何锋赟刘卫佳

申请人：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/08 G06T3/4038 G06T5/90 G06T5/40 G06T5/50 G01N21/88

代理机构：

长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218

代理人：

孙艳辉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240206
2024-05-24	授权	授权
2024-03-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377A ,2024-03-15

[2]

基于深度学习算法的表面缺陷检测方法 [P].

董航程 ;

刘国栋 ;

刘炳国 ;

高卓 ;

黄颖妍 ;

廖敬骁 .

中国专利 :CN115205275B ,2025-05-23

[3]

一种基于深度学习的结构缺陷检测方法 [P].

高峰利 ;

王怀喜 ;

李绍 ;

林锥 .

中国专利 :CN115423741A ,2022-12-02

[4]

基于光度立体与深度学习算法的缺陷检测方法及装置 [P].

苏育挺 ;

井佩光 ;

景梦瑶 .

中国专利 :CN115656189A ,2023-01-31

[5]

一种基于深度学习算法的梯次利用电芯外观缺陷检测方法 [P].

张西华 ;

迟亚欣 ;

梁鸿飞 ;

陈晓阳 ;

宋雨佳 .

中国专利 :CN118941544A ,2024-11-12

[6]

一种基于深度学习算法的材料微观结构缺陷检测方法 [P].

周青华 ;

杨万友 ;

王家序 ;

黄彦彦 ;

杨勇 ;

祝晋旋 ;

马力 ;

周广武 ;

蒲伟 .

中国专利 :CN109655483B ,2019-04-19

[7]

基于深度学习算法的便携式电缆接头表面划痕缺陷检测方法 [P].

王学峰 ;

方铭章 ;

赵欢 ;

余子彬 ;

黄军翔 ;

苏健成 .

中国专利 :CN118071680A ,2024-05-24

[8]

一种基于深度学习算法的透明件表面缺陷检测方法及系统 [P].

周雄刚 ;

王君峰 ;

李波 ;

加木屋匡宏 ;

宴涛 ;

魏昌豪 ;

赵阳 .

中国专利 :CN117437186A ,2024-01-23

[9]

基于深度学习算法的防震锤检测方法 [P].

陈建新 ;

张欣 ;

俞曙江 ;

李蒙 .

中国专利 :CN112906654A ,2021-06-04

[10]

一种基于深度学习的缺陷检测算法 [P].

滕亚鹏 ;

夏思宇 ;

李昊阳 ;

许毓楼 .

中国专利 :CN113379689B ,2024-05-10

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