一种半导体晶圆封装结构

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专利类型
实用新型
申请号
CN201821551418.1
申请日
2018-09-21
公开(公告)号
CN208706626U
公开(公告)日
2019-04-05
发明(设计)人
杨光宇
申请人
申请人地址
300000 天津市滨海新区华苑产业区梅苑路9号2号楼2门502
IPC主分类号
H01L2331
IPC分类号
H01L23367
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体晶圆封装结构 [P]. 
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何根余 ;
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[2]
一种半导体晶圆封装结构 [P]. 
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徐晶骥 .
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[3]
一种半导体晶圆检测封装结构 [P]. 
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[4]
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廖述杭 ;
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[5]
半导体晶圆级封装结构 [P]. 
肖智轶 ;
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房玉亮 ;
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廖建亚 ;
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[6]
半导体封装结构、半导体晶圆及半导体芯片 [P]. 
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[7]
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[8]
一种半导体晶圆级封装结构 [P]. 
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何根余 ;
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[9]
半导体晶圆及封装构造 [P]. 
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袁亚鸿 ;
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