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磁栅尺设备和位置测量设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920640035.X
申请日
:
2019-05-07
公开(公告)号
:
CN210051288U
公开(公告)日
:
2020-02-11
发明(设计)人
:
丁兆洋
费利克斯.格里姆
申请人
:
申请人地址
:
江苏省无锡市太湖街道富力十号C区,3-1802
IPC主分类号
:
G01B700
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
张银英
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-02-11
授权
授权
共 50 条
[41]
磁栅尺读数头
[P].
徐昕亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长春盛昊电子有限公司
长春盛昊电子有限公司
徐昕亮
;
于兆武
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机构:
长春盛昊电子有限公司
长春盛昊电子有限公司
于兆武
;
李京京
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0
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0
机构:
长春盛昊电子有限公司
长春盛昊电子有限公司
李京京
.
中国专利
:CN308809955S
,2024-08-30
[42]
磁栅尺安装机构及磁栅尺传感器
[P].
朱开峰
论文数:
0
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0
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0
朱开峰
.
中国专利
:CN211576075U
,2020-09-25
[43]
测量器件、测量设备、测量方法以及磁处理和测量设备
[P].
王林
论文数:
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王林
;
郭成龙
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0
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郭成龙
.
中国专利
:CN105387897B
,2016-03-09
[44]
测量方法和测量设备
[P].
J·赖宁克
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0
J·赖宁克
;
J·科塔尔
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J·科塔尔
;
S·N·L·多纳斯
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S·N·L·多纳斯
;
谢特·泰门·范德波斯特
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谢特·泰门·范德波斯特
.
中国专利
:CN114651214A
,2022-06-21
[45]
过桥尺测量设备
[P].
石学明
论文数:
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石学明
.
中国专利
:CN209655967U
,2019-11-19
[46]
位置测量系统和光刻设备
[P].
R·A·琼斯
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
R·A·琼斯
;
E·A·J·M·本特
论文数:
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
E·A·J·M·本特
.
:CN120112768A
,2025-06-06
[47]
位置测量系统和光刻设备
[P].
汉斯·布特勒
论文数:
0
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汉斯·布特勒
;
恩格尔伯塔斯·安东尼斯·弗朗西斯克斯·范德帕什
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恩格尔伯塔斯·安东尼斯·弗朗西斯克斯·范德帕什
.
中国专利
:CN101424513B
,2009-05-06
[48]
位置测量设备以及标尺和用于制造标尺的方法
[P].
A.弗兰克
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A.弗兰克
;
M.O.蒂曼
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M.O.蒂曼
;
M.霍伊曼
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M.霍伊曼
.
中国专利
:CN102749023A
,2012-10-24
[49]
用于校准位置测量设备的方法和校准掩模
[P].
诺伯特.克威恩
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诺伯特.克威恩
;
约琴.赫茨勒
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0
约琴.赫茨勒
.
中国专利
:CN102414615B
,2012-04-11
[50]
一种磁栅尺精密测量仪
[P].
汤明亮
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汤明亮
;
陈楚卿
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陈楚卿
;
陈楚辉
论文数:
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陈楚辉
.
中国专利
:CN214951100U
,2021-11-30
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