半导体器件测试装置的测试头定位装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN98117469.8

申请日：

1998-07-25

公开(公告)号：

CN1120501C

公开(公告)日：

1999-02-24

发明(设计)人：

根本真

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G11C2900

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

杨梧

法律状态：

实质审查请求的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1999-02-03	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效
2010-10-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101006300917 IPC(主分类):G11C 29/00 专利号:ZL981174698 申请日:19980725 授权公告日:20030903
2003-09-03	授权	授权
1999-02-24	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体器件测试装置 [P].

刘福红 ;

罗佳 ;

王叙夫 .

中国专利 :CN305979990S ,2020-08-11

[2]

半导体器件测试装置 [P].

渡边丰 ;

中村浩人 ;

矢部利男 ;

千叶道郎 .

中国专利 :CN1115721C ,1997-12-31

[3]

半导体器件测试装置 [P].

小泽广太郎 .

中国专利 :CN100345269C ,2005-10-12

[4]

半导体器件测试装置 [P].

崔炳奎 ;

武藤骏一 .

韩国专利 :CN118715444A ,2024-09-27

[5]

半导体器件测试装置 [P].

杨浩 .

中国专利 :CN214795085U ,2021-11-19

[6]

半导体器件测试装置 [P].

纪泽轩 ;

张梅琼 ;

马浩华 ;

吴民安 .

中国专利 :CN116908638B ,2024-03-22

[7]

半导体器件测试装置 [P].

吴胜 ;

王锋 ;

徐祁华 .

中国专利 :CN217766707U ,2022-11-08

[8]

半导体器件测试装置 [P].

奥田広 ;

五十岚德幸 ;

叶山久夫 .

中国专利 :CN1192533A ,1998-09-09

[9]

半导体器件测试装置 [P].

叶山久夫 ;

后藤敏雄 ;

菅野幸男 .

中国专利 :CN1205438A ,1999-01-20

[10]

半导体器件测试装置 [P].

大西武士 ;

铃木克彦 .

中国专利 :CN1146731C ,1998-07-22

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