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半导体器件用测试座
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201521097715.X
申请日：
2015-12-25
公开(公告)号：
CN205595310U
公开(公告)日：
2016-09-21
发明(设计)人：
杨伟
申请人：
申请人地址：
215021 江苏省苏州市工业园区星汉街5号新苏工业坊A幢09/10室
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
代理机构：
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人：
马明渡;王健
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-09-21 | 授权 | 授权 |