半导体器件用测试座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201521097715.X

申请日：

2015-12-25

公开(公告)号：

CN205595310U

公开(公告)日：

2016-09-21

发明(设计)人：

杨伟

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市工业园区星汉街5号新苏工业坊A幢09/10室

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

马明渡;王健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-09-21	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212965023U ,2021-04-13

[2]

一种测试精准的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212569023U ,2021-02-19

[3]

一种测试效果好的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN215005492U ,2021-12-03

[4]

一种测试稳定有效的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN215005493U ,2021-12-03

[5]

一种测试精准的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN111707921A ,2020-09-25

[6]

一种测试精准的半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN111707921B ,2024-08-27

[7]

一种夹爪限位式半导体器件用测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN212965268U ,2021-04-13

[8]

一种半导体器件测试座 [P].

黄灿荣 ;

陆建学 ;

李立 ;

刘方标 ;

易炳川 ;

冯建柏 .

中国专利 :CN221667866U ,2024-09-06

[9]

表面贴装半导体器件测试座 [P].

曾九林 ;

秦志强 .

中国专利 :CN2704050Y ,2005-06-08

[10]

一种用于半导体器件的测试座 [P].

闵哲 .

中国专利 :CN213240398U ,2021-05-18

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