一种包含多种校准类型的晶圆标准样板及其制作方法

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专利类型
发明
申请号
CN202011039583.0
申请日
2020-09-28
公开(公告)号
CN112114285A
公开(公告)日
2020-12-22
发明(设计)人
蒋庄德 张雅馨 王琛英 景蔚萱 林启敬 张易军 张亮亮 高崐 李磊 毛琦 王松 牛忠楠
申请人
申请人地址
710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
IPC主分类号
G01R3500
IPC分类号
G03F720
代理机构
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
苟冬梅
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种包含多种校准类型的晶圆标准样板 [P]. 
蒋庄德 ;
张雅馨 ;
王琛英 ;
景蔚萱 ;
林启敬 ;
张易军 ;
张亮亮 ;
高崐 ;
李磊 ;
毛琦 ;
王松 ;
牛忠楠 .
中国专利 :CN213750299U ,2021-07-20
[2]
一种在线校准晶圆微纳米台阶高度标准样板及其循迹方法 [P]. 
王琛英 ;
张雅馨 ;
蒋庄德 ;
景蔚萱 ;
林启敬 ;
刘明 ;
张易军 ;
韩枫 ;
毛琦 ;
王松 ;
杨亚威 .
中国专利 :CN110793433A ,2020-02-14
[3]
一种校准用纳米几何量标准样板及其制备方法 [P]. 
王琛英 ;
蒋庄德 ;
林启敬 ;
李磊 ;
刘明 ;
张易军 ;
韩枫 .
中国专利 :CN110054150A ,2019-07-26
[4]
一种纳米测量仪器校准用标准样板及其制备方法 [P]. 
杨亚威 ;
王琛英 ;
蒋庄德 ;
景蔚萱 ;
林启敬 ;
刘明 ;
张易军 ;
毛琦 ;
王松 ;
张雅馨 .
中国专利 :CN110646639A ,2020-01-03
[5]
一种晶圆级计量标准器及其制备方法 [P]. 
饶张飞 ;
秦凯亮 ;
金红霞 .
中国专利 :CN112881960A ,2021-06-01
[6]
一种微纳米标准样板及其循迹方法 [P]. 
雷李华 ;
邵力 ;
李源 ;
魏佳斯 ;
蔡潇雨 ;
傅云霞 ;
张波 .
中国专利 :CN105865389A ,2016-08-17
[7]
一种微纳米台阶标准样板及其循迹方法 [P]. 
曲金成 ;
蔡潇雨 ;
魏佳斯 ;
李源 ;
雷李华 ;
赵军 .
中国专利 :CN106931916A ,2017-07-07
[8]
一种亚表面多参数纳米标准样板及其制备方法 [P]. 
吴俊杰 ;
魏佳斯 ;
蔡潇雨 ;
李源 ;
孙恺欣 ;
周勇 .
中国专利 :CN115372368A ,2022-11-22
[9]
一种工程计量用可循迹多参数校准的微纳米标准样板 [P]. 
朱敏 ;
董传金 .
中国专利 :CN213874039U ,2021-08-03
[10]
一种晶圆加工的标定方法和装置 [P]. 
孙菁阳 ;
曹思明 ;
朱亮 ;
王宁银 ;
潘斌 .
中国专利 :CN120926913A ,2025-11-11