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一种在线校准晶圆微纳米台阶高度标准样板及其循迹方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910920159.8
申请日
:
2019-09-26
公开(公告)号
:
CN110793433A
公开(公告)日
:
2020-02-14
发明(设计)人
:
王琛英
张雅馨
蒋庄德
景蔚萱
林启敬
刘明
张易军
韩枫
毛琦
王松
杨亚威
申请人
:
申请人地址
:
710049 陕西省西安市咸宁西路28号
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
代理机构
:
西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人
:
张海平
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-19
授权
授权
2020-03-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20190926
2020-02-14
公开
公开
共 50 条
[1]
一种微纳米台阶标准样板及其循迹方法
[P].
曲金成
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曲金成
;
蔡潇雨
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蔡潇雨
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魏佳斯
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魏佳斯
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李源
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李源
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雷李华
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雷李华
;
赵军
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赵军
.
中国专利
:CN106931916A
,2017-07-07
[2]
一种微纳米标准样板及其循迹方法
[P].
雷李华
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雷李华
;
邵力
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邵力
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李源
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李源
;
魏佳斯
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魏佳斯
;
蔡潇雨
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蔡潇雨
;
傅云霞
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傅云霞
;
张波
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张波
.
中国专利
:CN105865389A
,2016-08-17
[3]
一种微纳米级台阶高度样板及其制备方法
[P].
王云祥
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王云祥
;
黄红平
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黄红平
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刘娟
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刘娟
;
郭郑来
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郭郑来
.
中国专利
:CN112723297A
,2021-04-30
[4]
一种纳米多台阶高度样板的制备方法
[P].
景蔚萱
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景蔚萱
;
蒋庄德
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蒋庄德
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赵凤霞
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赵凤霞
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朱明智
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朱明智
;
韩国强
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韩国强
.
中国专利
:CN100408970C
,2007-02-28
[5]
一种包含多种校准类型的晶圆标准样板
[P].
蒋庄德
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蒋庄德
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张雅馨
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张雅馨
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王琛英
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王琛英
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景蔚萱
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景蔚萱
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林启敬
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林启敬
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张易军
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张易军
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张亮亮
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张亮亮
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高崐
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高崐
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李磊
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李磊
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毛琦
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毛琦
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王松
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王松
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牛忠楠
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牛忠楠
.
中国专利
:CN213750299U
,2021-07-20
[6]
一种包含多种校准类型的晶圆标准样板及其制作方法
[P].
蒋庄德
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蒋庄德
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张雅馨
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张雅馨
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王琛英
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王琛英
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景蔚萱
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景蔚萱
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林启敬
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林启敬
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张易军
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张易军
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张亮亮
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张亮亮
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高崐
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高崐
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李磊
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李磊
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毛琦
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毛琦
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王松
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王松
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牛忠楠
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牛忠楠
.
中国专利
:CN112114285A
,2020-12-22
[7]
一种工程计量用可循迹多参数校准的微纳米标准样板
[P].
朱敏
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朱敏
;
董传金
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董传金
.
中国专利
:CN213874039U
,2021-08-03
[8]
一种微纳米标准样板
[P].
雷李华
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雷李华
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邵力
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邵力
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李源
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李源
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魏佳斯
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魏佳斯
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蔡潇雨
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蔡潇雨
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傅云霞
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傅云霞
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张波
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张波
.
中国专利
:CN205748332U
,2016-11-30
[9]
一种纳米测量仪器校准用标准样板及其制备方法
[P].
杨亚威
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杨亚威
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王琛英
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王琛英
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蒋庄德
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蒋庄德
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景蔚萱
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景蔚萱
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林启敬
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林启敬
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刘明
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刘明
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张易军
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张易军
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毛琦
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毛琦
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王松
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王松
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张雅馨
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张雅馨
.
中国专利
:CN110646639A
,2020-01-03
[10]
一种校准用纳米几何量标准样板及其制备方法
[P].
王琛英
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王琛英
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蒋庄德
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蒋庄德
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林启敬
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林启敬
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李磊
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李磊
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刘明
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刘明
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张易军
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张易军
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韩枫
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韩枫
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中国专利
:CN110054150A
,2019-07-26
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