一种设备测试方法、系统、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910968655.0

申请日：

2019-10-12

公开(公告)号：

CN110727552A

公开(公告)日：

2020-01-24

发明(设计)人：

刘均赵涛张秋菊

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道五和大道北4012号元征工业园

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285

代理人：

常忠良

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20191012
2020-01-24	公开	公开

共 50 条

[1]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687A ,2021-10-15

[2]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687B ,2024-08-09

[3]

UWB设备测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

于永亮 ;

孟博 .

中国专利 :CN113438133B ,2021-09-24

[4]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王建军 .

中国专利 :CN111835902A ,2020-10-27

[5]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

万志强 .

中国专利 :CN119739618A ,2025-04-01

[6]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120723627A ,2025-09-30

[7]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

[8]

测试系统、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

姜帅 ;

钱海斌 .

中国专利 :CN117478868A ,2024-01-30

[9]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈弈星 ;

胡健 .

中国专利 :CN113359331B ,2021-09-07

[10]

测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

余家奎 ;

芦辉 ;

占翔林 ;

李方鹏 ;

柯军 .

中国专利 :CN112783788A ,2021-05-11

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