自动测试方法、系统、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111239436.2
申请日
2021-10-25
公开(公告)号
CN113971128A
公开(公告)日
2022-01-25
发明(设计)人
史爱国
申请人
申请人地址
211899 江苏省南京市高新开发区研创园团结路99号孵鷹大厦C座501室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
上海弼兴律师事务所 31283
代理人
罗朗
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114297065A ,2022-04-08
[2]
自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P]. 
刘瀚仁 ;
张帆 .
中国专利 :CN118210713A ,2024-06-18
[3]
自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P]. 
陈华桃 ;
宋魏杰 ;
赖鼐 ;
龚晖 .
中国专利 :CN116991710B ,2024-04-09
[4]
自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王萍 .
中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14
[5]
应用的自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
尹华乐 .
中国专利 :CN113515452A ,2021-10-19
[6]
摄像模组自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
林锋芳 ;
林挺 .
中国专利 :CN118055219A ,2024-05-17
[7]
应用的自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
尹华乐 .
中国专利 :CN113515452B ,2024-09-27
[8]
自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
龙栋梁 .
中国专利 :CN119739626A ,2025-04-01
[9]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李绪隆 ;
黄明明 ;
杨娟娟 ;
车婷婷 .
中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16
[10]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN112685299A ,2021-04-20