自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011573323.1
申请日
2020-12-25
公开(公告)号
CN112685299A
公开(公告)日
2021-04-20
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
528400 广东省中山市火炬开发区东利路105号A区
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
余菲
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN112685299B ,2024-05-17
[2]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李绪隆 ;
黄明明 ;
杨娟娟 ;
车婷婷 .
中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16
[3]
自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
龙栋梁 .
中国专利 :CN119739626A ,2025-04-01
[4]
自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114297065A ,2022-04-08
[5]
设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王雷 ;
尹燕 ;
吴国峰 ;
王传宇 ;
周新 .
中国专利 :CN120321700A ,2025-07-15
[6]
自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王萍 .
中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14
[7]
用户界面自动测试方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
尹伊博 ;
许锦洋 ;
乌金一 ;
潘万坤 ;
周逸腾 .
中国专利 :CN109669873B ,2019-04-23
[8]
NFC自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈龙 .
中国专利 :CN116577971B ,2025-12-09
[9]
自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P]. 
刘瀚仁 ;
张帆 .
中国专利 :CN118210713A ,2024-06-18
[10]
程序自动测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN118069509A ,2024-05-24