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设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510447353.4
申请日：
2025-04-10
公开(公告)号：
CN120321700A
公开(公告)日：
2025-07-15
发明(设计)人：
王雷 尹燕 吴国峰 王传宇 周新
申请人：
立臻精密智造（昆山）有限公司
申请人地址：
215312 江苏省苏州市昆山市巴城镇金凤凰路188号
IPC主分类号：
H04W24/08
IPC分类号：
H04W24/10
代理机构：
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人：
邓新
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-01 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04W 24/08申请日:20250410
2025-07-15 公开 公开
共 50 条
[1]
自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
龙栋梁 .
中国专利 :CN119739626A ,2025-04-01
[2]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李绪隆 ;
黄明明 ;
杨娟娟 ;
车婷婷 .
中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16
[3]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN112685299A ,2021-04-20
[4]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN112685299B ,2024-05-17
[5]
自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114297065A ,2022-04-08
[6]
自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王萍 .
中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14
[7]
自动测试方法和装置、电子设备和存储介质 [P]. 
梁瑶 .
中国专利 :CN118245352A ,2024-06-25
[8]
NFC自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈龙 .
中国专利 :CN116577971B ,2025-12-09
[9]
程序自动测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN118069509A ,2024-05-24
[10]
自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
史爱国 .
中国专利 :CN113971128A ,2022-01-25
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