自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202111630828.1

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN114297065A

公开(公告)日：

2022-04-08

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区宜山路829号6幢201室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-08	公开	公开

共 50 条

[1]

自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

史爱国 .

中国专利 :CN113971128A ,2022-01-25

[2]

自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

王萍 .

中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14

[3]

自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

龙栋梁 .

中国专利 :CN119739626A ,2025-04-01

[4]

自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李绪隆 ;

黄明明 ;

杨娟娟 ;

车婷婷 .

中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16

[5]

自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN112685299A ,2021-04-20

[6]

自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN112685299B ,2024-05-17

[7]

设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

王雷 ;

尹燕 ;

吴国峰 ;

王传宇 ;

周新 .

中国专利 :CN120321700A ,2025-07-15

[8]

自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P].

刘瀚仁 ;

张帆 .

中国专利 :CN118210713A ,2024-06-18

[9]

自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P].

陈华桃 ;

宋魏杰 ;

赖鼐 ;

龚晖 .

中国专利 :CN116991710B ,2024-04-09

[10]

自动测试系统及自动测试方法 [P].

吴群 ;

陈雪锋 ;

薛冬锐 .

中国专利 :CN110297772A ,2019-10-01

← 1 2 3 4 5 →