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自动测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411652083.2
申请日：
2024-11-19
公开(公告)号：
CN119739626A
公开(公告)日：
2025-04-01
发明(设计)人：
孙成思 何瀚 王灿 龙栋梁
申请人：
深圳佰维存储科技股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
IPC主分类号：
G06F11/3668
IPC分类号：
G11C29/56 G11C29/10
代理机构：
深圳市博锐专利事务所 44275
代理人：
唐燕玲
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-01 公开 公开
2025-04-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241119
共 50 条
[1]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李绪隆 ;
黄明明 ;
杨娟娟 ;
车婷婷 .
中国专利 :CN115061921A ,2022-09-16
[2]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN112685299A ,2021-04-20
[3]
自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN112685299B ,2024-05-17
[4]
自动测试方法、自动测试系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114297065A ,2022-04-08
[5]
设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王雷 ;
尹燕 ;
吴国峰 ;
王传宇 ;
周新 .
中国专利 :CN120321700A ,2025-07-15
[6]
自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王萍 .
中国专利 :CN118035020A ,2024-05-14
[7]
NFC自动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈龙 .
中国专利 :CN116577971B ,2025-12-09
[8]
自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质 [P]. 
刘瀚仁 ;
张帆 .
中国专利 :CN118210713A ,2024-06-18
[9]
程序自动测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN118069509A ,2024-05-24
[10]
自动测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
史爱国 .
中国专利 :CN113971128A ,2022-01-25
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