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包括限定MOSFET晶体管的有效沟道长度的操作的制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010748995.5
申请日
:
2020-07-30
公开(公告)号
:
CN112309982A
公开(公告)日
:
2021-02-02
发明(设计)人
:
J·德拉勒奥
F·朱利恩
申请人
:
申请人地址
:
法国鲁塞
IPC主分类号
:
H01L218234
IPC分类号
:
H01L27088
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
董莘
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-02
公开
公开
2021-02-23
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8234 申请日:20200730
共 50 条
[1]
包括限定MOSFET晶体管的有效沟道长度的操作的制造方法
[P].
J·德拉勒奥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
J·德拉勒奥
;
F·朱利恩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
F·朱利恩
.
法国专利
:CN112309982B
,2025-05-09
[2]
一种增加晶体管有效沟道长度的方法
[P].
马雁飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马雁飞
;
宋洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋洋
;
王昌锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王昌锋
.
中国专利
:CN111785638A
,2020-10-16
[3]
晶体管及其沟道长度的形成方法
[P].
黄奕仙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄奕仙
;
杨斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨斌
.
中国专利
:CN103325834B
,2013-09-25
[4]
场效应晶体管和形成晶体管的方法
[P].
A·布赖恩特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·布赖恩特
;
E·J·诺瓦克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
E·J·诺瓦克
.
中国专利
:CN103227197A
,2013-07-31
[5]
具有增加的有效沟道长度的半导体器件的制造方法
[P].
郑弘植
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑弘植
;
金奇南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金奇南
;
黄有商
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄有商
.
中国专利
:CN100428442C
,2003-11-26
[6]
一种氮化镓晶体管与硅晶体管集成的方法
[P].
吴立枢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴立枢
;
孔月婵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔月婵
.
中国专利
:CN107195627A
,2017-09-22
[7]
抑制GIDL的MOSFET及其制造方法及包括MOSFET的电子设备
[P].
朱慧珑
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱慧珑
.
中国专利
:CN114093949A
,2022-02-25
[8]
抑制GIDL的MOSFET及其制造方法及包括MOSFET的电子设备
[P].
朱慧珑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
朱慧珑
.
中国专利
:CN114093949B
,2024-04-26
[9]
具有多沟道长度的垂直场效应晶体管器件
[P].
R·维尼加拉
论文数:
0
引用数:
0
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0
R·维尼加拉
;
R·A·维加
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
R·A·维加
;
H·马莱拉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
H·马莱拉
.
中国专利
:CN109314140A
,2019-02-05
[10]
包括具有硅锗(SiGe)的沟道的场效应晶体管(FET)
[P].
K·林
论文数:
0
引用数:
0
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0
K·林
;
S·S·宋
论文数:
0
引用数:
0
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0
S·S·宋
;
袁骏
论文数:
0
引用数:
0
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0
袁骏
;
K·雷姆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
K·雷姆
.
中国专利
:CN114556587A
,2022-05-27
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