用于校准或测试成像装置的设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010216489.1

申请日：

2020-03-25

公开(公告)号：

CN111751807A

公开(公告)日：

2020-10-09

发明(设计)人：

陈联福拉姆库玛·马林阿卢宏亮邓江汶郑希岚

申请人：

申请人地址：

新加坡义顺7道2号

IPC主分类号：

G01S7497

IPC分类号：

代理机构：

北京申翔知识产权代理有限公司 11214

代理人：

艾晶

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-09	公开	公开
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/497 申请日:20200325

共 50 条

[1]

用于校准成像装置的方法和设备 [P].

卡林·米特科夫·阿塔纳索夫 ;

塞尔久·R·戈马 ;

维卡斯·拉马钱德兰 .

中国专利 :CN103649997B ,2014-03-19

[2]

用于测试系统的校准设备和校准方法 [P].

Y·余 .

德国专利 :CN117728900A ,2024-03-19

[3]

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法 [P].

H-I·马克 ;

C·库尔策 .

中国专利 :CN101460098A ,2009-06-17

[4]

用于校准成像装置的方法及设备 [P].

塞尔久·R·戈马 ;

卡林·米特科夫·阿塔纳索夫 ;

维卡斯·拉马钱德兰 .

中国专利 :CN104685868B ,2015-06-03

[5]

成像装置校准方法和成像装置校准仪表 [P].

J·M·迪卡洛 .

中国专利 :CN1943250A ,2007-04-04

[6]

用于多信道射频通信设备的测试和/或校准的系统和方法 [P].

朱文 ;

孔宏伟 ;

景雅 .

中国专利 :CN106301605B ,2017-01-04

[7]

用于成像设备的校准装置、成像设备及投影仪测试系统 [P].

马铭晨 .

中国专利 :CN206400242U ,2017-08-11

[8]

用于对样本和/或样品容器进行成像的方法和设备 [P].

P.维斯曼 ;

B.S.波拉克 .

中国专利 :CN110914669A ,2020-03-24

[9]

成像装置和校准方法 [P].

古坂拓朗 ;

河津直树 ;

冈巧 .

中国专利 :CN113167656A ,2021-07-23

[10]

成像装置和校准方法 [P].

古坂拓朗 ;

河津直树 ;

冈巧 .

日本专利 :CN113167656B ,2024-10-22

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