SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922421290.8
申请日
2019-12-27
公开(公告)号
CN211653054U
公开(公告)日
2020-10-09
发明(设计)人
刘东月 茹志芹 张中豪 赵敏 黄杰
申请人
申请人地址
050051 河北省石家庄市合作路113号
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R104 G01N2520 G01N2518
代理机构
石家庄国为知识产权事务所 13120
代理人
张贵勤
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具 [P]. 
刘东月 ;
茹志芹 ;
张中豪 ;
赵敏 ;
黄杰 .
中国专利 :CN111103521A ,2020-05-05
[2]
SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具 [P]. 
刘东月 ;
茹志芹 ;
张中豪 ;
赵敏 ;
黄杰 .
中国专利 :CN111103521B ,2024-06-21
[3]
一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具 [P]. 
严维新 ;
荣春华 ;
曹庚才 ;
许保花 .
中国专利 :CN214750405U ,2021-11-16
[4]
一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具 [P]. 
陈梅业 ;
李进 .
中国专利 :CN110231498A ,2019-09-13
[5]
一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具 [P]. 
茹志芹 ;
迟雷 ;
彭浩 ;
张瑞霞 ;
林奇全 .
中国专利 :CN204479621U ,2015-07-15
[6]
一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具 [P]. 
茹志芹 ;
迟雷 ;
彭浩 ;
张瑞霞 ;
林奇全 .
中国专利 :CN104730295A ,2015-06-24
[7]
一种便于SMD封装半导体器件热阻测试的夹具 [P]. 
陈昱宏 .
中国专利 :CN114609416B ,2025-03-04
[8]
一种便于SMD封装半导体器件热阻测试的夹具 [P]. 
陈昱宏 .
中国专利 :CN114609416A ,2022-06-10
[9]
半导体器件测试夹具 [P]. 
邱显羣 ;
钱淼 ;
王韦勋 .
中国专利 :CN222636204U ,2025-03-18
[10]
一种SMD-0.5封装功率半导体器件热阻测试装置 [P]. 
温景超 ;
王立新 ;
周宏宇 ;
陆江 ;
韩郑生 .
中国专利 :CN203773016U ,2014-08-13