质量检验的审核方法、装置、系统及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910722272.5

申请日：

2019-08-06

公开(公告)号：

CN110458441A

公开(公告)日：

2019-11-15

发明(设计)人：

张朕秦林婵

申请人：

申请人地址：

100102 北京市朝阳区望京东园四区6号楼18层1801-1803单元

IPC主分类号：

G06Q1006

IPC分类号：

G06F16532 G06F1658 G06K962

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q 10/06 申请日:20190806
2019-11-15	公开	公开
2020-01-03	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G06Q 10/06 登记生效日:20191217 变更事项:申请人变更前权利人:北京七鑫易维信息技术有限公司变更后权利人:北京七鑫易维信息技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:100102 北京市朝阳区望京东园四区6号楼18层1801-1803单元变更后权利人:100102 北京市朝阳区望京东园四区6号楼18层1801-1803单元变更事项:申请人变更后权利人:七鑫易维（深圳）科技有限公司

共 50 条

[1]

质量检验数据的评价方法、装置、设备及存储介质 [P].

徐鑫辉 ;

曲虎 ;

单鹏赫 .

中国专利 :CN118229129A ,2024-06-21

[2]

车辆质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

贺成莉 ;

沈沉 .

中国专利 :CN121073270A ,2025-12-05

[3]

翻译文案的质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

闫洋铭 .

中国专利 :CN113177421A ,2021-07-27

[4]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265A ,2021-09-07

[5]

芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

王小平 ;

曹万 ;

李凡亮 ;

吴登峰 ;

夏令 .

中国专利 :CN113506758A ,2021-10-15

[6]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李旭阳 .

中国专利 :CN113360491A ,2021-09-07

[7]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李旭阳 .

中国专利 :CN113360491B ,2024-03-29

[8]

芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质 [P].

王小平 ;

曹万 ;

李凡亮 ;

吴登峰 ;

夏令 .

中国专利 :CN113506758B ,2024-08-09

[9]

数据质量检验方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙中科 ;

徐健 .

中国专利 :CN113361265B ,2024-05-28

[10]

自动化数据质量检验的方法、装置、设备和存储介质 [P].

黄夫龙 ;

曹峰 .

中国专利 :CN113127471A ,2021-07-16

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