一种半导体激光老化测试系统

被引：0

申请号：

CN202221103404.X

申请日：

2022-05-09

公开(公告)号：

CN218099458U

公开(公告)日：

2022-12-20

发明(设计)人：

林芳蔡峥鲍维俊李关陆知纬贾振华

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市锡山区东北塘街道石新路68号1栋4楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

黄建祥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体激光器自动老化测试系统 [P].

占临风 ;

李廷安 ;

马伟 .

中国专利 :CN117590121A ,2024-02-23

[2]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358A ,2022-06-07

[3]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

赵森 .

中国专利 :CN114594358B ,2025-03-21

[4]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759B ,2025-09-26

[5]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759A ,2025-07-08

[6]

一种非致冷半导体激光器的老化测试系统 [P].

崔琳 ;

张彩 .

中国专利 :CN203643537U ,2014-06-11

[7]

一种半导体老化测试系统 [P].

曹佶 ;

梅山赛 ;

胡尚礼 .

中国专利 :CN118777818A ,2024-10-15

[8]

一种半导体激光器老化考评测试系统及其应用 [P].

宫安亮 .

中国专利 :CN117969995A ,2024-05-03

[9]

一种半导体激光器芯片的测试系统 [P].

胡海 ;

刘文斌 ;

王泰山 ;

李成鹏 ;

方继林 .

中国专利 :CN206546412U ,2017-10-10

[10]

一种半导体激光器芯片的测试系统 [P].

胡海 ;

刘文斌 ;

王泰山 ;

李成鹏 ;

方继林 .

中国专利 :CN106597264A ,2017-04-26

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