一种QFN封装芯片的FT测试装置

被引：0

申请号：

CN202221621248.6

申请日：

2022-06-27

公开(公告)号：

CN217787296U

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

叶小港吴传伟王磊

申请人：

申请人地址：

215163 江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园2号楼202室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

苏州国诚专利代理有限公司 32293

代理人：

顾阳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种QFN封装锁相芯片测试装置 [P].

杜勇 ;

袁文 ;

袁帅 ;

张世艳 ;

邱云峰 .

中国专利 :CN205067614U ,2016-03-02

[2]

一种QFN封装锁相芯片测试装置 [P].

杜勇 ;

袁文 ;

袁帅 ;

张世艳 ;

邱云峰 .

中国专利 :CN105158604A ,2015-12-16

[3]

鼠标芯片的FT测试装置 [P].

姬起群 ;

谭一成 .

中国专利 :CN204595161U ,2015-08-26

[4]

芯片产品FT测试装置 [P].

饶思建 ;

罗伟标 ;

唐佐 .

中国专利 :CN214795105U ,2021-11-19

[5]

QFN封装集成电路用测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN210604874U ,2020-05-22

[6]

QFN封装射频芯片测试夹具 [P].

杨雪 ;

廖强 ;

张强 .

中国专利 :CN217385580U ,2022-09-06

[7]

一种芯片FT测试装置 [P].

顾卫民 ;

邓浩 ;

王一寒 .

中国专利 :CN117783826B ,2024-05-28

[8]

一种芯片FT测试装置 [P].

顾卫民 ;

邓浩 ;

王一寒 .

中国专利 :CN117783826A ,2024-03-29

[9]

一种弹片及兼容QFN封装多种尺寸的测试装置 [P].

谢志斌 ;

谢森华 .

中国专利 :CN222952389U ,2025-06-06

[10]

一种芯片封装的测试装置 [P].

文伟峰 ;

郭达文 ;

贾涛 ;

刘智 ;

梁世超 ;

王海文 .

中国专利 :CN217931920U ,2022-11-29

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