一种QFN封装锁相芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520643427.3

申请日：

2015-08-25

公开(公告)号：

CN205067614U

公开(公告)日：

2016-03-02

发明(设计)人：

杜勇袁文袁帅张世艳邱云峰

申请人：

申请人地址：

550009 贵州省贵阳市小河区红河路7号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

贵阳中新专利商标事务所 52100

代理人：

商小川

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种QFN封装锁相芯片测试装置 [P].

杜勇 ;

袁文 ;

袁帅 ;

张世艳 ;

邱云峰 .

中国专利 :CN105158604A ,2015-12-16

[2]

一种封装芯片测试装置 [P].

何秋生 ;

黄峰荣 ;

杨斌 .

中国专利 :CN212483762U ,2021-02-05

[3]

一种QFN封装芯片的FT测试装置 [P].

叶小港 ;

吴传伟 ;

王磊 .

中国专利 :CN217787296U ,2022-11-11

[4]

QFN封装射频芯片测试夹具 [P].

杨雪 ;

廖强 ;

张强 .

中国专利 :CN217385580U ,2022-09-06

[5]

一种芯片封装的测试装置 [P].

文伟峰 ;

郭达文 ;

贾涛 ;

刘智 ;

梁世超 ;

王海文 .

中国专利 :CN217931920U ,2022-11-29

[6]

QFN封装集成电路用测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN210604874U ,2020-05-22

[7]

一种芯片测试装置及天线封装芯片 [P].

章欣 ;

王典 ;

李珊 .

中国专利 :CN210668281U ,2020-06-02

[8]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[9]

一种适用于封装芯片的测试装置 [P].

肖国良 ;

李文超 .

中国专利 :CN218181027U ,2022-12-30

[10]

封装芯片测试装置 [P].

王鹏 .

中国专利 :CN223650140U ,2025-12-09

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