一种封装芯片测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020673030.X
申请日
2020-04-28
公开(公告)号
CN212483762U
公开(公告)日
2021-02-05
发明(设计)人
何秋生 黄峰荣 杨斌
申请人
申请人地址
629000 四川省遂宁市高新区物流港玫瑰大道东侧春晓路73号苏哈瑞涛科技园2号厂房
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
成都华复知识产权代理有限公司 51298
代理人
庞启成
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种QFN封装锁相芯片测试装置 [P]. 
杜勇 ;
袁文 ;
袁帅 ;
张世艳 ;
邱云峰 .
中国专利 :CN205067614U ,2016-03-02
[2]
一种芯片测试装置及天线封装芯片 [P]. 
章欣 ;
王典 ;
李珊 .
中国专利 :CN210668281U ,2020-06-02
[3]
封装芯片测试装置 [P]. 
王鹏 .
中国专利 :CN223650140U ,2025-12-09
[4]
一种封装芯片测试装置 [P]. 
顾勋 ;
司敏 ;
邓升成 .
中国专利 :CN114740330A ,2022-07-12
[5]
一种封装芯片测试装置 [P]. 
陈春雷 .
中国专利 :CN221078865U ,2024-06-04
[6]
一种QFN封装锁相芯片测试装置 [P]. 
杜勇 ;
袁文 ;
袁帅 ;
张世艳 ;
邱云峰 .
中国专利 :CN105158604A ,2015-12-16
[7]
一种测试两种封装芯片的测试装置 [P]. 
高国强 ;
钱瀛恺 .
中国专利 :CN216595410U ,2022-05-24
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
蒋卫兵 ;
顾培东 .
中国专利 :CN208999534U ,2019-06-18
[10]
一种适用于封装芯片的测试装置 [P]. 
肖国良 ;
李文超 .
中国专利 :CN218181027U ,2022-12-30