缺陷检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911194843.9

申请日：

2019-11-28

公开(公告)号：

CN111311537A

公开(公告)日：

2020-06-19

发明(设计)人：

龚林春彭立志刘迁肖武胜丁山王超张绍兵夏小东张洋李腾蛟

申请人：

申请人地址：

100044 北京市西城区西直门外大街甲143号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G01N2189 G01N21898 G01N2188

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

彭琰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20191128
2020-06-19	公开	公开

共 50 条

[1]

轴承套圈缺陷检测装置及检测方法 [P].

钟相强 ;

方华杰 ;

杨怀安 ;

邸志民 ;

范敬松 ;

冯赛龙 ;

邹令令 .

中国专利 :CN113447493A ,2021-09-28

[2]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23

[3]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

山崎隆一 .

中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09

[4]

缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P].

杨学红 .

中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07

[5]

缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P].

高志豪 ;

邓亦书 .

中国专利 :CN104914106A ,2015-09-16

[6]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

林彬 ;

于大维 ;

张凯 .

中国专利 :CN115541584A ,2022-12-30

[7]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30

[8]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

何伟 .

中国专利 :CN109856877A ,2019-06-07

[9]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[10]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

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