用于扫描暗场和相位对比成像的射束硬化校正

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680026448.8

申请日：

2016-05-06

公开(公告)号：

CN107567640B

公开(公告)日：

2018-01-09

发明(设计)人：

T·克勒 H·德尔 E·勒斯尔

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G06T1100

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

王英;刘炳胜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 11/00 申请日:20160506
2022-04-05	授权	授权
2018-01-09	公开	公开

共 50 条

[21]

用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统 [P].

M·P·维尔梅茨 ;

T·克勒 ;

R·普罗克绍 ;

F·J·普法伊费尔 .

中国专利 :CN114269250A ,2022-04-01

[22]

在容器中成像的样品微层析成像中的射束硬化伪像的校正 [P].

J·J·霍尔特 ;

A·M·金斯顿 ;

A·P·谢泼德 .

中国专利 :CN107209944A ,2017-09-26

[23]

基于光栅的相位对比成像 [P].

H·德尔 ;

T·克勒 .

中国专利 :CN109964118A ,2019-07-02

[24]

用于反向的X射线-相位对比成像的装置和方法 [P].

G.萨弗特 .

中国专利 :CN103575750A ,2014-02-12

[25]

用于X射线相位对比成像的探测装置 [P].

T·克勒 .

中国专利 :CN101873828B ,2010-10-27

[26]

基于配准模型仿真的锥束CT射束硬化校正方法 [P].

张定华 ;

黄魁东 ;

卜昆 ;

王凯 .

中国专利 :CN101126722B ,2008-02-20

[27]

CT图像的射束硬化伪影校正装置及方法 [P].

曹蹊渺 ;

王学礼 ;

谢强 .

中国专利 :CN106551702B ,2017-04-05

[28]

一种CT机射束硬化的校正方法 [P].

孙海宁 ;

楼珊珊 ;

刘晋军 .

中国专利 :CN1296011C ,2004-03-24

[29]

用于相位对比成像的X射线探测器 [P].

C·博伊默 ;

K·J·恩格尔 ;

C·赫尔曼 .

中国专利 :CN101952900B ,2011-01-19

[30]

用于狭缝扫描差分相位对比成像的格栅安装装置 [P].

托马斯·克勒 ;

埃瓦尔德·勒斯尔 ;

马蒂亚斯·巴特尔斯 ;

王振天 ;

马尔科·斯坦帕诺尼 .

中国专利 :CN110621232A ,2019-12-27

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