用于扫描暗场和相位对比成像的射束硬化校正

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680026448.8

申请日：

2016-05-06

公开(公告)号：

CN107567640B

公开(公告)日：

2018-01-09

发明(设计)人：

T·克勒 H·德尔 E·勒斯尔

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G06T1100

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

王英;刘炳胜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 11/00 申请日:20160506
2022-04-05	授权	授权
2018-01-09	公开	公开

共 50 条

[41]

利用改善的采样的微分相位对比成像 [P].

T·克勒 .

中国专利 :CN103079469B ,2013-05-01

[42]

基于多色投影方程的射束硬化伪影校正算法、装置、设备 [P].

赵树森 ;

石昌荣 ;

夏迪梦 ;

罗思媛 .

中国专利 :CN121073830A ,2025-12-05

[43]

对用CT仪记录的原始图象进行射束硬化校正的方法 [P].

雷纳·劳帕克 .

中国专利 :CN1230781C ,2002-07-17

[44]

用于采集暗场图像的体模设备、暗场成像系统和方法 [P].

H·德尔 ;

T·克勒 ;

H-I·马克 .

中国专利 :CN109561868A ,2019-04-02

[45]

用于相干合成激光射束的相对相位测量 [P].

M·黑夫纳 ;

T·梅茨格 .

中国专利 :CN108780010B ,2018-11-09

[46]

一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法 [P].

高富强 ;

周钦 ;

蔡玉芳 ;

陈赟飞 ;

冯永 ;

李岭 ;

兰扬 ;

严强 ;

安康 .

中国专利 :CN103134823B ,2013-06-05

[47]

微分相位对比成像系统的校准 [P].

G·福格特米尔 ;

K·J·恩格尔 ;

D·格勒 ;

T·克勒 ;

E·勒斯尔 .

中国专利 :CN102651994A ,2012-08-29

[48]

基于图像修复实现能谱CT射束硬化伪影校正方法 [P].

谢世朋 ;

时虎 .

中国专利 :CN119648834A ,2025-03-18

[49]

基于图像修复实现能谱CT射束硬化伪影校正方法 [P].

谢世朋 ;

时虎 .

中国专利 :CN119648834B ,2025-10-28

[50]

一种基于可调双因子的CT图像射束硬化伪影校正系统 [P].

陈明 ;

张秀琰 ;

李刚 ;

韩景奇 ;

郑永果 ;

李涌 .

中国专利 :CN110458762A ,2019-11-15

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