一种光学薄膜应力测试装置

被引：0

申请号：

CN202222075106.0

申请日：

2022-08-08

公开(公告)号：

CN218349677U

公开(公告)日：

2023-01-20

发明(设计)人：

王亚博刘国喜孙琪王相义芦淑华

申请人：

申请人地址：

065201 河北省廊坊市三河市燕郊镇华隆工业园16车间南侧

IPC主分类号：

G01L500

IPC分类号：

G01N2500

代理机构：

北京信融专利代理事务所(普通合伙) 16068

代理人：

何胜勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜透光测试装置 [P].

周洪钧 .

中国专利 :CN215598986U ,2022-01-21

[2]

一种光学薄膜测试装置 [P].

熊磊 .

中国专利 :CN102818772A ,2012-12-12

[3]

一种光学薄膜应力的测试装置及测试方法 [P].

金柯 ;

刘永强 ;

杨崇民 ;

王颖辉 ;

韩俊 ;

王慧娜 ;

张建付 ;

李明伟 ;

杨益民 ;

王松林 .

中国专利 :CN104634760A ,2015-05-20

[4]

一种光学薄膜激光损伤测试装置 [P].

赵学庆 ;

郑国鑫 ;

白婷 ;

薛全喜 ;

肖伟伟 .

中国专利 :CN102778426A ,2012-11-14

[5]

固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

王银河 ;

阴晓俊 ;

姚春龙 ;

朱德金 ;

宋光辉 ;

战俊生 .

中国专利 :CN202351019U ,2012-07-25

[6]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

罗娟 .

中国专利 :CN212674770U ,2021-03-09

[7]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218350102U ,2023-01-20

[8]

一种光学薄膜抗刮性能测试装置 [P].

周贤敏 .

中国专利 :CN208383759U ,2019-01-15

[9]

一种高精度低应力光学薄膜沉积装置 [P].

刘浩 ;

赵祖珍 ;

沈洋 ;

刘伟强 .

中国专利 :CN212103012U ,2020-12-08

[10]

一种光学薄膜 [P].

谷至华 ;

汪敏 ;

施克炜 ;

陈晓东 .

中国专利 :CN204989516U ,2016-01-20

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