散热效果较好的集成电路测试机

被引：0

申请号：

CN202123064091.X

申请日：

2021-12-07

公开(公告)号：

CN217007586U

公开(公告)日：

2022-07-19

发明(设计)人：

彭晓魂张保平

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区刘屋村第二工业区第四栋102

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 H05K720

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

刘曰莹;彭涛

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-19	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路测试机 [P].

杨再林 ;

韦敏荣 ;

孔晓琳 ;

王英广 ;

李安平 .

中国专利 :CN306809249S ,2021-09-07

[2]

具有降噪结构的集成电路测试机 [P].

彭晓魂 ;

张保平 .

中国专利 :CN216361839U ,2022-04-22

[3]

新型集成电路芯片测试机 [P].

刘华 ;

赵春莲 ;

姚琳 ;

张超 ;

华锡培 .

中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31

[4]

集成电路芯片测试机 [P].

侯海平 .

中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15

[5]

集成电路测试机(IGBT) [P].

黄世雄 ;

韩良伟 ;

邱磊 ;

占津晶 .

中国专利 :CN308545423S ,2024-03-29

[6]

一种集成电路测试机 [P].

徐四九 .

中国专利 :CN214845637U ,2021-11-23

[7]

具有散热效果的集成电路 [P].

陈少琼 .

中国专利 :CN215912429U ,2022-02-25

[8]

一种集成电路芯片测试机 [P].

柯武生 ;

翁国权 ;

王汉波 ;

郭军 .

中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25

[9]

集成电路测试机连接性检测系统 [P].

姜伟伟 ;

苏广峰 ;

向俊武 ;

周游 ;

陈小跃 ;

陈浩 .

中国专利 :CN211826337U ,2020-10-30

[10]

一种多功能集成电路芯片测试机 [P].

何青海 .

中国专利 :CN220913288U ,2024-05-07

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