用于X射线源剂量率监控的小尺寸穿透电离室

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200420009318.8

申请日：

2004-09-14

公开(公告)号：

CN2736785Y

公开(公告)日：

2005-10-26

发明(设计)人：

李元景缪庆文张清军高文焕代主得李树伟

申请人：

申请人地址：

100083北京市清华同方科技广场A座2907

IPC主分类号：

G01T1185

IPC分类号：

G01N2304

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-10-26	授权	授权
2007-09-19	其他有关事项避免重复授权放弃专利权	其他有关事项避免重复授权放弃专利权放弃生效日:20040914

共 24 条

[1]

一种用于X射线源剂量率监控的小尺寸穿透电离室 [P].

李元景 ;

缪庆文 ;

张清军 ;

高文焕 ;

代主得 ;

李树伟 .

中国专利 :CN1749778A ,2006-03-22

[2]

用于X射线源剂量率监控的穿透电离室 [P].

李元景 ;

缪庆文 ;

张清军 ;

高文焕 ;

代主得 ;

郭红云 .

中国专利 :CN2591644Y ,2003-12-10

[3]

一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室 [P].

李元景 ;

缪庆文 ;

张清军 ;

高文焕 ;

代主得 ;

郭红云 .

中国专利 :CN1220069C ,2004-06-30

[4]

用于测量β高剂量率的外推电离室 [P].

陈慧莉 ;

张延生 ;

姚小莉 ;

张庆利 .

中国专利 :CN2379812Y ,2000-05-24

[5]

一种用于脉冲X、γ射线剂量测量的平板电离室 [P].

高飞 ;

徐阳 ;

倪宁 ;

张曦 ;

侯金兵 .

中国专利 :CN209387885U ,2019-09-13

[6]

一种采用两路电离室检测信号的X射线源装置 [P].

邬海峰 .

中国专利 :CN203492259U ,2014-03-19

[7]

用于X射线监测的双通道全密封电离室 [P].

苗青 ;

王爱涛 ;

任旗 ;

孟超 .

中国专利 :CN205582882U ,2016-09-14

[8]

宽量程剂量当量率测量电离室的仿真电路 [P].

马斌 ;

方金土 ;

雷夏生 ;

臧维乔 ;

王熙 .

中国专利 :CN206524080U ,2017-09-26

[9]

一种用于辐射剂量测量的平板电离室 [P].

翟贺争 ;

武权 ;

赵徵鑫 ;

杨浩贤 ;

黄伟旭 ;

李重贤 ;

王建礼 ;

李立芳 ;

马赛 ;

孙昊 .

中国专利 :CN216351257U ,2022-04-19

[10]

一种基于电离室的X射线探测装置 [P].

梁旭 .

中国专利 :CN222939274U ,2025-06-03